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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀

簡要描述:fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀
有三個型號:XDLM 231具有平面支撐臺,XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺,當(dāng)打開防護罩時,該平臺會自動移到裝載位置。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-10-22
  • 訪  問  量:1087

詳細(xì)介紹

價格區(qū)間面議應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車
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公司宗旨:公司一貫堅持“質(zhì)量,用戶至上,優(yōu)質(zhì)服務(wù),”的宗旨,憑借著高質(zhì)量的產(chǎn)品,良好的信譽,優(yōu)質(zhì)的服務(wù),產(chǎn)品全國.竭誠與國內(nèi)外商家雙贏合作,共同發(fā)展,共創(chuàng)輝煌!

吉馨公司將以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、優(yōu)勢價格、優(yōu)秀服務(wù),為您提供性高價比的解決方案。    上海吉馨實業(yè)發(fā)展有限公司 是德國菲希爾Fischer測厚儀,德國Elektrophysik(EPK)公司測厚儀,英國易高測厚儀,英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等的代理商,咨詢查看更多規(guī)格和配置的更詳細(xì)介紹。

 

FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀:

        FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣,它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號:XDLM 231具有平面支撐臺,XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺,當(dāng)打開防護罩時,該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細(xì)小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。此外,XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XULM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

特征
    • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
    • X射線探測器采用比例接收器
    • 準(zhǔn)直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
    • 基本濾片:固定或3個自動切換
    • 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
    • 固定樣品支撐臺 ,手動XY工作臺
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置??潭染€經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實際測量點大小。
    • 設(shè)計獲得許可,防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:
    • 大批量電鍍件測量
    • 防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
    • 電鍍行業(yè)槽液分析
    • 線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
    • 測量接插件和觸點的鍍層
    • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
    • 黃金,珠寶和手表行業(yè)

 

通用規(guī)格
設(shè)計用途能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)用于確定薄涂層,小結(jié)構(gòu),痕跡和合金。
元素范圍氯Cl(17)至鈾U(92)–同時多達24種元素
設(shè)計理念臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向由上往下
X射線源
X射線管帶鈹窗口的鎢管
高壓可調(diào): 30 kV,40 kV,50 kV
孔徑(準(zhǔn)直器)4倍可更改:Ø0.1毫米; Ø0.2毫米 Ø0.3毫米 插槽0.05毫米x 0.05毫米(其他可根據(jù)要求提供)
測量點尺寸取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大?。杭s Ø0.15mm
X射線探測
X射線接收器比例接收器
電氣參數(shù)
電源要求AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率大 120 W (不包括計算機)
保護等級:IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸寬×深×高[mm]:570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸寬×深×高[mm]:460×495x(參考“樣品大高度”部分的說明)
重量105 kg
環(huán)境要求
使用時溫度10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度0°C – 50°C
空氣相對濕度≤ 95 %,無結(jié)露
工作臺
設(shè)計固定工作臺
Z軸行程140 mm
可用樣品放置區(qū)463 x 500 mm
樣品大重量20kg
樣品大高度140 mm

 

應(yīng)用實例:

        XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如*或突起,測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號強度。

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

電鍍液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

防腐保護性鍍層: Zn/Fe

 

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